仪器介绍丨同步辐射吸收谱

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure, XAFS) 也叫做X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy, XAS) ，是一种基于同步辐射光源的，研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。XAFS广 泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要是基于以下优点:

1、不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究;

2、不受其它元素的干扰，可对同一材料中不同的元素分别研究;

3、不受样品状态的影响，可以测量固体(晶体、粉末) ,液体(溶液、熔融态)和气体等;

4、对样品无破坏，可以进行原位测试;

5、能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数，一般认为原子间距的精确度可达0.01 A;

6、检测下限低，最低可达几个ppm。

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型号：同步辐射光源

测试项目：

同步辐射吸收谱硬X线测试

样品要求：

粉末100mg以上，一般测试K边或者L边

预约须知

本测试为同步辐射吸收谱测试。样品量粉末100mg以上，块体或者薄膜长宽1cm左右。预约下单前请确保已经和负责老师沟通确认过条件，请勿私自下单预约，避免有些情况无法满足您的要求!!!

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