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21. Poly (多晶硅)栅极形成的步骤大致可分为那些?

答:①Gate oxide(栅极氧化层) 的生长;

②Polyfilm的沉积及SiON(在光刻中作为抗反射层的物质) 的沉积);

③Poly 图形的形成(Photo);

④Poly 及SiON 的Etch ;

⑤Etch 完后的ash(plasma(等离子体) 清洗) 及光刻胶去除(PRstrip);

⑥Poly 的Re-oxidation(二次氧化)。

22. Poly (多晶硅)栅极的刻蚀(etch)要注意哪些地方?

答:①Poly 的CD(尺寸大小控制;

②避免Gate oxie 被蚀刻掉,造成基材(substrate)受损.

23. 何谓 Gate oxide (栅极氧化层)?

答:用来当作器件的介电层,利用不同厚度的 gateoxide ,可调节栅极电压对不同器件进行开关

栅极电压

Gate(栅极)

漏极电压

Source

源极栅极氧化层

Substrate 基材基本(Device)器件

示意图Drain 漏极

24. 源/漏极(source/drain)的形成步骤可分为那些?

答:①LDD 的离子注入(Implant);

②Spacer 的形成;

③N /P IMP高浓度源/漏极(S/D)注入及快速热处理(RTA:Rapid Thermal Anneal) 。

25. LDD 是什幺的缩写? 用途为何?

答:LDD:Lightly Doped Drain. LDD是使用较低浓度的源/漏极, 以防止组件产生热载子效应的一项工艺。

26. 何谓 Hotcarrier effect (热载流子效应)?

答:在线寛小于0.5um 以下时, 因为源/漏极间的高浓度所产生的高电场, 导致载流子在移动时被加速产生热载子效应, 此热载子效应会对gateoxide 造成破坏, 造成组件损伤,从而导致VT shift,以及衬底电流增大。

27. 何谓Spacer? Spacer蚀刻时要注意哪些地方?

答:在栅极(Poly)的两旁用dielectric(介电质)形成的侧壁,主要由Ox/SiN/Ox组成。蚀刻spacer 时要注意其CD 大小,profile(剖面轮廓) ,及remainoxide(残留氧化层的厚度)

28. Spacer 的主要功能?

答:①使高浓度的源/漏极与栅极间产生一段LDD 区域;

②作为Contact Etch时栅极的保护层。

29. 为何在离子注入后, 需要热处理( Thermal Anneal)的工艺?

答:①为恢复经离子注入后造成的芯片表面损伤;

②使注入离子扩散至适当的深度;

③使注入离子移动到适当的晶格位置。

30. SAB 是什么的缩写? 目的为何?

答:SAB :Salicide  lock, 用于保护硅片表面,在RPO(Resist Protect Oxide)

的保护下硅片不与其它Ti, Co形成硅化物(salicide)。

31. 简单说明SAB 工艺流程中要注意哪些?

答:①SAB 光刻后(photo ),刻蚀后(etch)的图案(特别是小块区域)。要确定有完整的包覆(block )住必需被包覆(block )的地方。

②remain oxide (残留氧化层的厚度) 。

③ 有RPO 保护的地方

32. 何谓硅化物( salicide)?

答:Si 与 Ti 或 Co 形成 TiSix 或 CoSix,一般来说是用来降低接触电阻值(Rs, Rc),它们形成的化合物通常有两种相,一般先形成一种电阻略高的相,然后还要通过RTA形成低阻相,从而达到降低接触电阻的目的。

33. 硅化物(salicide)的形成步骤主要可分为哪些?

答:①Co(或Ti) TiN的沉积;

②第一次RTA (快速热处理)来形成Salicide。

③将未反应的Co(Ti)以化学酸去除。

④第二次RTA (用来形成Ti 的晶相转化, 降低其阻值) 。

34. MOS 器件的主要特性是什幺?

答:它主要是通过栅极电压(Vg )来控制源,漏极(S/D)之间电流,实现其开关特性。

35. 我们一般用哪些参数来评价device 的特性?

答:主要有Idsat 、Ioff 、Vt 、Vbk(breakdown)、Rs 、Rc ;一般要求Idsat 、 Vbk  (breakdown)值尽量大, Ioff 、Rc 尽量小,Vt 、Rs 尽量接近设计值.

36. 什么是Idsat?Idsat 代表什幺意义?

答:饱和电流。也就是在栅压(Vg)一定时,源/漏(Source/Drain)之间流动的最大电流.

37. 在工艺制作过程中哪些工艺可以影响到Idsat?

答:PolyCD(多晶硅尺寸) 、Gateoxide Thk(栅氧化层厚度) 、AA(有源区) 宽度、Vt imp.条件、LDDimp.条件、N /P imp. 条件,阱浓度。

38. 什么是Vt? Vt 代表什幺意义?

答:阈值电压(ThresholdVoltage),就是产生强反型所需的最小电压。当栅极电压 Vg< Vt时, MOS处于关的状态,而Vg 〉=Vt时,源/漏之间便产生导电沟道,MOS 处于开的状态。

39. 在工艺制作过程中哪些工艺可以影响到Vt?

答:Poly CD、Gateoxide Thk. (栅氧化层厚度) 、AA(有源区) 宽度阱浓度及Vt imp.条件,

40. 什么是Ioff? Ioff小有什幺好处

答:关态电流,Vg=0时的源、漏级之间的电流,一般要求此电流值越小越好。Ioff 越小, 表示栅极的控制能力愈好, 可以避免不必要的漏电流(省电) 。

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