IC产品的质量与可靠性测试 | 长芯半导体有限公司 / 开普饭

常见电梯状态 N 正常状态 ERR ...

探针测试Probe:旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本. 适用于:Wafer,IC测试,IC设计等检测内容包含: 1.微小连接点信号引出 2.失效分析失效确认 3.FIB电路修 ...

用来测试工艺过程,即有可能是因为工艺的问题使得芯片失效的问题: 失效问题: 空间环境(无尘车间) 金属断裂金属短路工艺偏差失效模型: SA1->Stuck At 1 A B 期望Z 实际Z ...

上篇文章聊到IC产品的可靠性,本文主要分享可靠性的测试标准. 上传测试标准之前,多说两句.一般可靠性测试主要考察两部分,一是环境压力测试,二是机械压力测试,相关的主要测试项目如下表. 提到测试,就要统 ...

导语最近参加某领域项目评审,发现基于模型的系统工程(Model-Based Systems Engineering,MBSE)一直热度不减,有点无MBSE不科研的感觉,今天分享关于MBS ...

组织可靠性能力成熟度度量方法 IEEE Std 1624 IEEE Standard for Organizational Reliability Capability 为设计.制造或采购电气/电 ...

来源:连接器世界网 [哔哥哔特导读]百佳泰创立于1991年,为测试产业的先驱,主要提供格式IT产品客制化的测试及咨询服务.同时百佳泰也是深连协的主要会员之一,近日,<国际线缆与连接>记者采 ...

序号审查大类审查小类描述 1 功能级测试电源测试随机掉电功能测试:假设单板启动时间为T,设置T/6.2T/6.3T/6.4T/6.5T/6.T时间循环掉电验证2000次. 2 功能级测试总 ...

束线.绞线的不良品.废品,主要问题有过扭.内层或外层单线断裂.缺股.单线或绞线表面擦伤.单线背股.单线起皮.斑疤.脆断.拱起.有夹杂物.线径超差或掺错.绞合方向错.蛇形.绞合节距大.长度不合格.绞合松 ...

束线.绞线的不良品.废品,主要问题有过扭.内层或外层单线断裂.缺股.单线或绞线表面擦伤.单线背股.单线起皮.斑疤.脆断.拱起.有夹杂物.线径超差或掺错.绞合方向错.蛇形.绞合节距大.长度不合格.绞合松 ...

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